불량 반도체 메모리의 효과적 수리기술 개발 강성호 교수(전기전자공학부)가 ‘이달의 과학기술자상’을 수상했다. 교육과학기술부와 한국연구재단은 메모리 반도체에서 테스트하면서 고장을 찾아내 자체적으로 수리할 수 있는 회로를 설계하여 이 분야의 원천기술 확보에 기여한 공로로 강 교수를 ‘이달의 과학기술자상’ 4월 수상자로 선정했다고 밝혔다. 강성호 교수는 메모리 테스트에서 발견된 불량을 효과적으로 수리하는 자체내장 수리연산회로를 개발하고, 효율, 면적, 시간, 방법 등 성능 면에서 기존 연구를 뛰어넘는 탁월한 수리기술을 개발하여 학계의 주목을 받았다. 메모리는 수율(收率)을 높이기 위해 제조공정상 발생하는 불량을 수리하여 제품을 완성하는데, 모든 기기에서 메모리의 사용량과 비율이 급격히 증가함에 따라 효과적인 수리는 매우 중요한 문제로 대두됐다. TSV(through silicon via) 기술과 SoC(system on a chip) 등의 등장으로, 전 세계 우수한 연구자들은 효과적인 메모리 수리 기술을 개발하기 위해 활발히 연구하고 있다. 강성호 교수는 메모리 안에 회로를 추가하여 자체적으로 불량 셀을 수리하는 효과적인 자체내장 수리연산회로를 개발했다. 강 교수는 메모리 테스트를 통해 얻은 불량에 대한 정보를 저장하는 공간을 최소화하고자, 불량의 연속성을 고려하여 불량을 분류하고 불필요한 정보 저장을 억제하였으며, 불량 정보를 효과적으로 분류·저장하여 소요면적을 최소화했다. 또한 효과적으로 분류된 불량 정보를 활용하여 수리방법을 찾기 위한 연산을 최소화했다. 특히 하드웨어적으로 매우 간단하게 회로를 구성하여 수리방법 후보들을 병렬적으로 연산함으로써 빠른 시간 내에 최적의 수리방법을 찾을 수 있도록 설계했다. 이 기술은 최적의 수리효율뿐만 아니라 소요면적과 수리시간에서도 매우 우수한 결과를 나타내, 산업체에서도 효과적으로 사용할 수 있을 것으로 전망된다. 강성호 교수는 2002년에 ‘테스트협회’를 창립하여 산학연간의 연구 협력을 추진하였고, 2008년에도 ‘한국반도체테스트학회’를 설립하여 테스트학술대회를 개최하는 등 국내 반도체 테스트분야에서 학술적인 발전과 산학연 협력에 크게 기여했다. 강 교수는 테스트 용이화 설계(Design for Testability) 분야에서 국제적으로 경쟁력 있는 연구를 지속적으로 수행하고 있으며, 이 분야에서 권위 있는 국제 학술지(IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems와 IEEE Transactions on Very Large Scale Integration Systems 등)에 수많은 논문을 게재했다.